检测项目
铟含量测定：检测范围0.01%-99.99%，精度±0.01%，用于纯度评估
铅杂质检测：检测限0.001ppm，确保材料无有害元素
镉杂质检测：检测限0.001ppm，控制环境污染风险
铜杂质检测：检测限0.001ppm，影响导电性能
锌杂质检测：检测限0.001ppm，涉及合金稳定性
铁杂质检测：检测限0.001ppm，防止氧化反应
硫含量测定：检测范围0.1-1000ppm，精度±0.1ppm
氧含量测定：检测范围1-1000ppm，精度±1ppm
密度测定：范围7.0-7.5g/cm³，精度±0.01g/cm³
硬度测试：维氏硬度范围10-50HV，精度±1HV
熔点测定：范围150-160°C，精度±0.5°C
电导率测定：范围0.1-10S/m，精度±0.05S/m
拉伸强度测试：范围50-150MPa，精度±1MPa
热膨胀系数测定：范围5-20×10⁻⁶/°C，精度±0.5×10⁻⁶/°C
表面粗糙度分析：Ra值范围0.1-10μm，精度±0.01μm
晶粒尺寸测量：范围1-100μm，精度±0.1μm
腐蚀速率评估：范围0.001-1mm/年，精度±0.0001mm/年
氢含量测定：检测范围0.1-100ppm，精度±0.1ppm
氮含量测定：检测范围0.1-100ppm，精度±0.1ppm
碳含量测定：检测范围0.01-1000ppm，精度±0.01ppm
检测范围
高纯铟锭：纯度99.99%以上工业原料
铟基合金材料：如铟锡合金、铟银合金
铟焊料：用于电子封装连接应用
铟溅射靶材：薄膜沉积工艺关键组件
氧化铟化合物：半导体和显示器件原料
铟薄膜材料：透明导电膜应用
铟粉体：粉末冶金和添加剂
铟丝材：细丝状结构件
铟箔片：薄片状工业材料
铟涂层材料：表面防护层
铟电子元件：如电极和触点
铟电池材料：锂电池负极组分
铟核材料：核工业屏蔽组件
铟催化剂：化学反应媒介
铟陶瓷复合材料：高温应用
铟纳米颗粒：纳米技术领域
铟生物医学材料：植入物涂层
铟光伏材料：太阳能电池组分
铟超导材料：低温应用
铟化工中间体：合成反应原料
检测方法
电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）：依据ASTME1479进行痕量元素分析
原子吸收光谱法（AAS）：依据GB/T12690测定金属杂质
X射线荧光光谱法（XRF）：依据ISO3497实现无损成分检测
滴定分析法：依据ASTME54测定铟主含量
气相色谱法（GC）：依据GB/T223.74分析挥发性杂质
密度梯度柱法：依据GB/T1423测量材料密度
维氏硬度测试法：依据ISO6507评估材料硬度
热分析法：依据GB/T2384测定熔点特性
四探针法：依据ASTMB193测量电导率
惰性气体熔融法：依据ASTME1019测定氧氮氢含量
紫外可见分光光度法：依据GB/T9721分析特定化合物
扫描电子显微镜法（SEM）：依据ISO16700观察微观结构
X射线衍射法（XRD）：依据ASTME1426分析晶体结构
电化学阻抗谱法：依据GB/T26125评估腐蚀行为
激光粒度分析法：依据ISO13320测量颗粒尺寸
热膨胀仪法：依据ASTME831测定热膨胀系数
拉伸试验法：依据GB/T228评估力学性能
表面轮廓仪法：依据ISO4287分析粗糙度
腐蚀测试法：依据ASTMG31评估耐蚀性
碳硫分析仪法：依据GB/T20123测定碳硫含量
检测设备
电感耦合等离子体质谱仪：型号Agilent7900，功能高灵敏度元素定量分析
原子吸收光谱仪：型号PerkinElmerPinAAcle900T，功能精确元素浓度测量
X射线荧光光谱仪：型号BrukerS8TIGER，功能无损多元素同时检测
气相色谱仪：型号ShimadzuGC-2010Plus，功能挥发性化合物分离分析
密度计：型号MettlerToledoXS205，功能自动密度值计算
维氏硬度计：型号WilsonWolpertTukon2100B，功能材料硬度压痕测试
熔点仪：型号MettlerToledoFP90，功能熔点温度精确测定
电导率测试仪：型号Keithley6517B，功能电阻率与电导率测量
氧氮氢分析仪：型号LECOONH836，功能气体元素含量检测
紫外可见分光光度计：型号ShimadzuUV-2600，功能吸光度与浓度分析
扫描电子显微镜：型号HitachiSU5000，功能高分辨率表面成像
X射线衍射仪：型号PANalyticalEmpyrean，功能晶体结构鉴定
电化学工作站：型号GamryInterface1010E，功能腐蚀与阻抗测试
激光粒度分析仪：型号MalvernMastersizer3000，功能颗粒尺寸分布测量
热膨胀仪：型号NETZSCHDIL402C，功能热膨胀系数测定
万能材料试验机：型号Instron5967，功能拉伸强度与力学性能测试
表面粗糙度仪：型号MitutoyoSJ-410，功能表面轮廓Ra值分析
碳硫分析仪：型号ELTRACS-2000，功能碳硫元素含量测定
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
