检测项目

击穿电压测试：测量介质失效临界电压值，参数范围0-100kV（±0.5%精度），升压速率100-5000V/s可调

泄漏电流检测：记录10nA-10mA范围的电流波动，分辨率达0.1pA

介质损耗角正切值（tanδ）：频率范围40Hz-1MHz，测量精度±0.0001

绝缘电阻测量：测试电压DC 100-5000V，阻值范围1×10⁶-1×10¹⁶Ω

表面电阻率测试：电极间距2-100mm可调，环境湿度控制30-80%RH

检测范围

绝缘材料类：环氧树脂浇注件、云母带、硅橡胶制品

半导体器件：IGBT模块、晶闸管封装体

电子元器件：多层陶瓷电容器、高压连接器

高分子材料：PTFE薄膜、聚酰亚胺复合板材

金属镀层：阳极氧化铝、化学镀镍层

检测方法

检测设备

Keysight B1505A高压分析仪

最大输出电压110kV，配备三电极测试夹具，支持I-V/C-V多参数同步采集

Chroma 19032绝缘测试系统

直流耐压测试范围0-15kV，集成10通道绝缘电阻测试功能

HIOKI IM3570阻抗分析仪

频率范围4Hz-5MHz，支持四端对测量模式，介质损耗测试精度±0.05%

Tettex 2924自动控温测试箱

温度调节范围-70℃~+300℃，配备湿度控制系统（10-98%RH）

Megger MIT525绝缘电阻测试仪

测试电压范围50-5000V，最大测量阻值20TΩ，符合IEC 61010安全标准

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。