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平行投影法检测

检测项目

几何尺寸偏差:测量范围±50mm,精度±0.01mm

形状误差:平面度≤0.05mm/m,圆度误差≤0.02mm

表面缺陷识别:最小缺陷分辨率0.005mm²

装配间隙检测:检测范围0.01-5mm,重复性误差±1μm

投影对比度分析:灰度级差≥200,动态范围16bit

检测范围

金属材料:铝合金、钛合金等精密加工件

塑料制品:注塑成型件、薄膜材料

电子元件:PCB板、微型连接器

光学元件:透镜、棱镜曲率半径

医疗器械:植入物表面光洁度、导管内径

检测方法

ASTM E2934-13:光学投影系统几何特性校准标准

ISO 12181-1:圆柱度误差评定方法

GB/T 1182-2018:产品几何技术规范(GPS)形状公差

ISO 10360-7:坐标测量机(CMM)与光学系统比对验证

GB/T 26193-2010:工业用投影仪检测通则

检测设备

Mitutoyo QV-4040:高精度光学投影仪,分辨率0.1μm,最大测量直径400mm

Keyence VHX-7000:4K数字显微镜,支持3D形貌重建

Hexagon Optiv Classic 322:多传感器测量系统,集成CCD与激光扫描

Olympus STM7:工业显微镜,配备20-1000倍变焦镜头

ZEISS O-INSPECT 322:复合式影像测量机,XYZ轴精度1.8+L/350μm

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

平行投影法检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。