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分光仪检测

检测项目

透射率检测:波长范围200-2500nm,分辨率≤0.1nm,检测精度±0.3%

反射率检测:入射角5°-80°可调,偏振态S/P分离测量,绝对反射率误差≤0.5%

吸收光谱分析:检测带宽0.05-5nm可调,吸光度线性范围0-3A,基线漂移<0.001A/h

色度坐标测定:CIE 1931标准色度系统,色差ΔE*ab≤0.1,照明体D65/A光源切换

薄膜厚度计算:基于干涉谱反演算法,厚度测量范围10nm-100μm,误差±1.5%

检测范围

光学玻璃:包括滤光片、棱镜、透镜等透光元件

薄膜材料:光伏用ITO薄膜、光学镀膜、包装阻隔膜

金属镀层:电镀/真空镀膜层的光反射特性分析

液体样品:油品色度、溶液浓度、胶体分散度检测

半导体材料:GaN、SiC等宽禁带半导体带隙测定

检测方法

ASTM E275:紫外-可见分光光度计性能验证标准

ISO 13697:激光损伤阈值测试用反射率测量方法

GB/T 26824-2011:纳米氧化铝紫外吸收特性检测

ISO 9050:建筑玻璃可见光透射比测定规范

GB/T 3978-2008:标准照明体及色度观测条件

ASTM F1048:光学薄膜应力测试用反射光谱法

检测设备

PerkinElmer Lambda 950:双光束分光光度计,波长范围175-3300nm,积分球直径150mm

Thermo Scientific Evolution 220:配备Peltier温控样品仓,支持动力学模式检测

Shimadzu UV-3600Plus:三检测器系统,杂散光≤0.00005%T,光栅刻线密度3600条/mm

Agilent Cary 7000:全自动可变角绝对反射附件,角度分辨率0.01°

岛津SolidSpec-3700:深紫外检测系统,配备真空样品室,支持190nm以下波段测量

北京普析通用T9系列:双单色器设计,光谱带宽0.1-5nm可调,符合JJG 178检定规程

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

分光仪检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。