检测项目
结晶度测定：X射线衍射法（XRD）定量分析（范围：0-100%）
晶粒尺寸计算：Scherrer公式计算（精度±5nm）
相含量分析：Rietveld全谱拟合（检出限0.5wt%）
晶体取向表征：极图与反极图分析（角度分辨率0.1°）
微观形貌观测：SEM二次电子成像（分辨率3nm@15kV）
检测范围
金属合金：钛合金相变分析、铝合金时效强化评估
高分子材料：聚丙烯等半结晶聚合物结晶行为研究
药品原料：活性药物成分（API）多晶型鉴别
陶瓷材料：氧化锆相稳定性能测试
半导体材料：单晶硅位错密度测定
检测方法
X射线衍射法：ASTM E975-2020 / GB/T 23413-2009
差示扫描量热法：ISO 11357-3:2018 / GB/T 19466.3-2004
电子背散射衍射：ASTM E1508-12 / GB/T 17359-2012
拉曼光谱法：ISO 18473-3:2018 / GB/T 36065-2018
红外光谱法：ASTM E1252-98(2021) / GB/T 6040-2019
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
