检测项目
波前畸变精度：λ/20（λ=632.8nm）
空间分辨率：≤1.5μm@10×物镜
干涉条纹对比度：≥85%
光路稳定性误差：≤λ/30/小时
样品位移灵敏度：0.1μm级三维测量
检测范围
光学玻璃元件（透镜/棱镜/窗口片）
金属基复合材料（CFRP/GFRP层压板）
高分子薄膜（PET/PC/PMMA）
半导体晶圆（硅片/砷化镓基板）
生物组织样本（角膜/皮肤切片）
检测方法
ASTM E1819-20：全息干涉测量法测定材料应变
ISO 13696:2022：光学元件表面形貌测试规范
GB/T 13962-2021：光学全息检测通用技术要求
ISO 25178-604:2023：非接触式表面形貌测量系统校准
GB/T 38823-2020：激光数字全息检测方法
检测设备
Zygo Verifire MST干涉仪：配置633nm He-Ne激光源，4MP科学级CCD
Keysight 5500系列激光干涉仪：支持双波长（532nm/1064nm）工作模式
Olympus LEXT OLS5000激光共聚焦显微镜：集成405nm激光器与纳米运动平台
4D Technology PhaseCam 6000动态干涉仪：100Hz高速采集速率
Thorlabs HNL210L-EC He-Ne激光系统：功率稳定性±0.5%/8小时
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
