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金银双金属检测

检测项目

1. 双金属层成分分析:采用X射线荧光光谱法(XRF)测定金层与银层的质量百分比(Au:75%-99.9%,Ag:0.1%-25%)

2. 镀层厚度测量:使用β射线反向散射仪测定单层厚度范围(0.1-50μm),精度±0.05μm

3. 结合强度测试:通过剥离试验测定界面结合力(≥5N/mm²),剪切强度(≥15MPa)

4. 表面形貌分析:扫描电镜(SEM)观测界面扩散层厚度(≤200nm),孔隙率(<0.5%)

5. 耐腐蚀性评估:盐雾试验(5% NaCl溶液)测定72小时腐蚀失重率(≤0.1mg/cm²)

检测范围

1. 电子元器件:包括高频连接器触点、半导体封装基板等金银复合导电材料

2. 珠宝首饰:双色贵金属镶嵌制品及表面镀层工艺品

3. 工业复合材料:核反应堆控制棒包覆层、航天器热控镀膜材料

4. 医疗器械:牙科修复体金银合金功能梯度材料

5. 贵金属纪念币:双金属币坯料及防伪镀层结构

检测方法

1. ASTM E3061-17:X射线荧光光谱法测定贵金属镀层成分及厚度

2. ISO 3497:2020:金属镀层厚度测量-β射线反向散射法

3. GB/T 15824-2018:热冲击法测试金属镀层结合强度

4. ISO 9227:2022:人造气氛腐蚀试验-盐雾试验

5. GB/T 17359-2023:电子探针显微分析(EPMA)测定元素面分布

检测设备

1. Thermo Scientific ARL QUANT'X X射线荧光光谱仪:配备Rh靶X光管(50kV/50W),可测元素范围Na-U

2. Fischerscope XDL-B Beta射线测厚仪:测量精度±0.8%,适用基材包括Cu/Ni/Fe合金

3. ZwickRoell Z050万能材料试验机:最大载荷50kN,配备高温夹具(-70℃~300℃)

4. Zeiss EVO 18扫描电子显微镜:分辨率3nm@30kV,配备牛津X-MaxN 80能谱仪

5. Q-FOG CRH盐雾试验箱:满足CCT循环腐蚀测试(温度范围15-60℃)

6. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:配备LynxEye阵列探测器(192通道)

7. Shimadzu EPMA-8050G电子探针:束斑直径1μm,元素检出限0.01wt%

8. Elcometer 456涂层测厚仪:磁感应/涡流双模式(0-2000μm)

9. Keysight E5063A网络分析仪:频率范围100kHz至18GHz,测试界面接触电阻

10. MTS Criterion万能试验机:配备数字图像相关系统(DIC),应变测量精度0.005%

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

金银双金属检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。