检测项目
1.钯含量测定：采用ICP-OES法测量范围0.1%-99.9%，精度0.05%
2.汞含量测定：冷原子吸收光谱法测量范围0.05%-50%，检出限0.01ppm
3.Pd/Hg比例分析：X射线荧光光谱法测量比例范围1:1至10:1
4.杂质元素检测：包括铅(Pb)、铁(Fe)、铜(Cu)等12种元素，限值≤500ppm
5.物理性能测试：密度8-12g/cm，熔点1300-1550℃，热膨胀系数(25-500℃)≤810⁻⁶/℃
检测范围
1.工业催化剂：石化加氢催化剂、燃料电池电极材料
2.电子元器件：高精度电阻浆料、半导体封装材料
3.牙科修复材料：汞齐合金修复体及预成冠组件
4.贵金属合金：Pd-Hg-Ag系特种合金材料
5.工业废料回收：含钯汞废弃催化剂的再生处理品
检测方法
1.ASTME1479-16《电感耦合等离子体原子发射光谱法测定贵金属成分》
2.ISO11885:2007《水质-汞的测定-冷蒸气原子吸收光谱法》
3.GB/T15072.5-2008《贵金属合金化学分析方法-钯量的测定》
4.GB/T8170-2008《数值修约规则与极限数值判定》汞量测试规范
5.ISO17294-2:2016《水质-电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)应用》杂质元素分析
检测设备
1.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：配备CID86检测器，可同步测定Pd/Hg及15种杂质元素
2.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪：配备FIAS流动注射系统，汞检出限达0.02μg/L
3.BrukerS8TIGERX射线荧光光谱仪：Rh靶材4kW发生器，实现非破坏性比例分析
4.NetzschSTA449F3同步热分析仪：测量熔点与热膨胀系数，温度范围RT-1600℃
5.Agilent7900ICP-MS：ORS3碰撞反应池技术，痕量杂质检出限达ppt级
6.MettlerToledoXSE105电子天平：分辨率0.01mg的微量称量系统
7.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测定回收料粉末粒径分布D50值
8.HitachiSU8010场发射电镜：配合EDAX能谱仪进行微区成分分析
9.Metrohm905Titrando电位滴定仪：库仑法测定汞价态分布
10.LecoONH836氧氮氢分析仪：测定材料中氧含量≤100ppm
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
