检测项目
1.入射角精度测量：范围50-70，分辨率0.005，重复性误差≤0.02
2.p偏振光反射率曲线分析：波长范围400-1600nm，反射率分辨率0.05%
3.消光比测试：动态范围30-60dB，偏振态稳定性0.1dB/10min
4.介质折射率计算：基于Fresnel公式推导折射率n值（精度0.0005）
5.表面粗糙度影响评估：Ra≤1nm时对角度测量偏差补偿模型验证
检测范围
1.光学玻璃基板（K9、熔融石英等）的镀膜界面特性分析
2.半导体材料（Si、GaAs）表面氧化层厚度测定
3.聚合物薄膜（PET、PC）双折射效应研究
4.金属纳米涂层（Au、Ag）等离子体共振特性表征
5.液晶显示面板取向层分子排列角度校准
检测方法
ASTME903-20《材料太阳吸收率与反射率测试》中角度扫描法
ISO13696:2022《光学元件散射特性测量》偏振调制技术
GB/T26323-2010《光学功能薄膜折射率测试规范》
GB/T37501-2019《纳米薄膜光学常数椭偏测量方法》
ISO15368:2021《光学系统偏振特性测试导则》
检测设备
1.J.A.WoollamM-2000UI型全自动椭偏仪：支持70入射角下0.1nm膜厚分辨率
2.HoribaUVISEL2相位调制光谱仪：波长范围190-2100nm,角度重复定位精度0.002
3.AgilentCary7000全能型分光光度计：配备UMA附件实现θ-2θ联动扫描
4.ThorlabsPAX1000偏振分析仪：消光比测量动态范围60dB@1550nm
5.OceanInsightHR4Pro光谱仪：2048像素CCD阵列实现5ms高速采集
6.Newport1918-R功率计：配合偏振片实现μW级微弱信号检测
7.ZygoVerifireMST干涉仪：表面粗糙度Ra≤0.1nm测量能力
8.KeysightN7776C可调谐激光源：波长调谐步长0.1pm@1550nm波段
9.OphirVega激光功率计：支持10mW-50W宽动态范围校准
10.PIC-863Mercury数字控制器：六轴联动样品台定位精度0.0005
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
