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银粒检测

检测项目

1.粒径分布:D10/D50/D90值测定(测量范围0.01-3500μm) 2.纯度分析:Ag含量≥99.95%(ICP-OES法) 3.形貌表征:球形度>0.85(SEM/TEM观测) 4.比表面积:BET法(0.01-2000m/g) 5.表面污染物:Cl⁻≤50ppm(离子色谱法)

检测范围

1.电子浆料用银粉(粒径0.1-5μm) 2.光伏银浆导电材料(纯度≥99.99%) 3.抗菌涂层纳米银颗粒(粒径10-100nm) 4.催化剂载体银微粒(比表面积>50m/g) 5.3D打印金属粉末(球形度>0.9)

检测方法

1.ASTMB822-20:金属粉末粒度分布激光衍射法 2.ISO13320:2020:粒度分析激光衍射通用要求 3.GB/T19077-2016:粒度分布激光衍射法 4.ASTME1941-10:ICP-OES元素分析法 5.GB/T17723-2021:金属覆盖层表面污染物测定

检测设备

1.马尔文Mastersizer3000:激光粒度分析仪(0.01-3500μm) 2.赛默飞iCAPPROXPS:电感耦合等离子体发射光谱仪 3.FEINovaNanoSEM450:场发射扫描电镜(1nm分辨率) 4.麦克ASAP2460:比表面积及孔隙度分析仪 5.岛津HIC-ESP离子色谱仪:阴离子检测限0.1ppb 6.BrukerD8ADVANCE:X射线衍射仪(结晶度分析) 7.MalvernZetasizerNanoZS:Zeta电位及纳米粒度分析 8.PerkinElmerTGA8000:热重分析仪(纯度验证) 9.HitachiHT7700:透射电子显微镜(亚纳米级观测) 10.Agilent7900ICP-MS:痕量元素检测系统

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

银粒检测
其他检测

中析研究所可进行各种检测分析服务,包括不限于:标准试验,非标检测,分析测试,认证设计,产品验收,质量内控,矢量分析,内部控制,司法鉴定等。可出具合法合规、具有公信力的第三方检测报告。