检测项目
1.纯度分析：总硫含量（≥59.8%）、游离硫（≤0.3%）、金属杂质（Fe≤50ppm,Ni≤30ppm）2.晶体结构表征：层间距（0.620.02nm）、晶型完整性（2H/3R相比例）3.薄膜厚度测量：单层厚度（0.65-0.75nm）、多层膜均匀性（RSD≤5%）4.元素比例测定：W:S原子比（1:1.95-2.05）、氧含量（≤1.5at%）5.表面形貌分析：缺陷密度（≤10/cm）、层间堆垛有序度
检测范围
1.固体润滑剂用WS₂粉末（粒径50nm-10μm）2.CVD法制备的二维半导体薄膜（1-10层）3.锂离子电池负极复合材料（WS₂/C复合体系）4.高温涂层用WS₂基复合材料（含MoS₂/NbSe₂掺杂体系）5.光电催化用纳米片材料（比表面积≥20m/g）
检测方法
1.ASTME3061-17《过渡金属硫化物元素分析法》2.ISO22262-3:2017《层状材料晶体结构XRD表征规范》3.GB/T4325-2020《钨及钨化合物化学分析方法》4.ISO21363:2020《纳米材料粒径分布TEM测定法》5.GB/T36065-2018《纳米材料比表面积测试BET法》6.ASTMF1526-21《薄膜厚度椭圆偏振测量标准》
检测设备
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪：晶型分析（2θ=10-80）2.HitachiSU5000场发射扫描电镜：表面形貌观测（分辨率1nm）3.ThermoFisheriCAPRQICP-MS：痕量金属杂质检测（ppb级）4.HoribaLabRAMHREvolution拉曼光谱仪：层数判定（特征峰位移2cm⁻）5.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：粒径分布测试（0.01-3500μm）6.BrukerDimensionIcon原子力显微镜：表面粗糙度测量（垂直分辨率0.1nm）7.QuantachromeAutosorb-iQ比表面分析仪：BET比表面积测定（精度1%）8.Agilent5500扫描探针显微镜：电学性能原位测试（电流分辨率10pA）9.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪：热稳定性测试（RT-1500℃）10.J.A.WoollamM-2000V椭圆偏振仪：薄膜厚度测量（误差0.1nm）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
