检测项目
1.纯度检测：采用非破坏性分析技术测定LaBr3主成分含量≥99.99%2.痕量杂质分析：ICP-MS测定Ce3+、Pr3+等稀土杂质≤10ppm3.晶体缺陷表征：XRD分析晶格常数偏差≤0.0024.吸湿性测试：动态水分吸附仪测定24h吸湿增重≤0.15%5.光学透过率：紫外-可见分光光度计测量400-800nm波段透过率≥85%
检测范围
1.稀土卤化物闪烁晶体（LaBr3:Ce）2.高折射率光学镀膜材料3.核辐射探测器封装组件4.真空蒸镀用高纯原料颗粒5.中子探测用复合晶体材料
检测方法
1.ASTMC1234-18《稀土化合物化学分析方法》2.ISO14707:2015《表面化学分析-辉光放电发射光谱法》3.GB/T12690.3-2015《稀土金属及其氧化物中非稀土杂质化学分析方法》4.ISO20565-3:2008《含铬耐火制品化学分析》5.GB/T4336-2016《碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析法》
检测设备
1.BrukerS8TIGERX射线荧光光谱仪（波长色散型WDXRF）2.PerkinElmerNexION350D电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）3.RigakuSmartLabX射线衍射仪（9kW旋转阳极发生器）4.MettlerToledoTGA/DSC3+热重分析仪（0.1μg分辨率）5.AgilentCary7000紫外可见近红外分光光度计（175-3300nm）6.MalvernMastersizer3000激光粒度分析仪（0.01-3500μm）7.NetzschDIL402ExpedisClassic热膨胀仪（-150℃至1600℃）8.HoribaLabRAMHREvolution显微拉曼光谱仪（532nm/785nm双激光源）9.ShimadzuEDX-7000能量色散X射线荧光光谱仪（Be窗探测器）10.ThermoScientificiCAPRQICP-OES（双向观测径向/轴向模式）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
