内容页头部

正向扫描位移检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:1. 光学显微镜:
光学显微镜是一种常用的微观观察仪器,用于观察材料表面的形貌和细微的位移变化。

2. 激光干涉仪:
激光干涉仪是一种利用激光干涉原理测量位移的仪器。通过测量

1. 光学显微镜:

光学显微镜是一种常用的微观观察仪器,用于观察材料表面的形貌和细微的位移变化。

2. 激光干涉仪:

激光干涉仪是一种利用激光干涉原理测量位移的仪器。通过测量干涉光的相位变化来确定待测物体的位移。

3. 运动探头:

运动探头是一种用于接触式位移测量的传感器。它可以安装在待测物体上,通过感知物体的运动来测量位移。

4. 激光测距仪:

激光测距仪可以通过发射激光,测量激光返回的时间来计算距离。可以用它来测量物体的距离变化,从而间接测量位移。

正向扫描位移检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所