罩极法检测是一种用来测量材料的表面层厚度的方法，常用于涂层厚度的测量。在罩极法检测中，使用以下仪器进行测量：

1. 磁性涂层测量仪：磁性涂层测量仪通过测量材料表面上的磁场变化来确定涂层的厚度。它通常包括一个探测头和一台仪器，可以测量不同类型的涂层，例如磁性涂层、非磁性涂层等。

2. 薄膜厚度计：薄膜厚度计是一种常用的非接触式测量仪器，通过测量材料表面反射的光的幅度和相位变化来确定薄膜的厚度。它可以测量多种材料的涂层厚度，如金属、陶瓷、塑料等。

3. 超声波测厚仪：超声波测厚仪使用超声波脉冲发射和接收原理，测量材料内部的声速和时间来确定涂层的厚度。它适用于各种材料的涂层测量，包括金属、塑料、玻璃等。

4. 电子显微镜：电子显微镜是一种高分辨率的仪器，可用于观察和测量材料表面的微观结构和厚度。通过电子显微镜可以获取材料表面的高清图像，并通过图像处理软件来测量涂层的厚度。

5. 扫描电子显微镜（SEM）：扫描电子显微镜结合了高分辨率显微镜和扫描电子束技术，能够提供更详细的表面形貌和厚度信息。通过SEM可以对涂层进行表面形貌分析和厚度测量。