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窄波段检测方法

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文章概述:窄波段检测是一种用于分析衬底材料或薄膜的光学性质的方法。其主要应用于材料科学研究和半导体工艺控制中。
窄波段检测的方法有以下几个:
1. 傅里叶变换红外光谱(FTIR):通过对

窄波段检测是一种用于分析衬底材料或薄膜的光学性质的方法。其主要应用于材料科学研究和半导体工艺控制中。

窄波段检测的方法有以下几个:

1. 傅里叶变换红外光谱(FTIR):通过对样品所吸收或散射的窄波段红外辐射进行测量,来分析样品的化学成分和结构特征。

2. 紫外可见光谱(UV-Vis):利用紫外和可见光波段的电磁辐射与样品的吸收、散射或发射相互作用,测量样品在特定波长下的吸收光谱。

3. X射线衍射(XRD):通过照射样品表面的X射线,测量所产生的衍射图样,进而分析样品的晶体结构和晶体学参数。

4. Raman光谱:利用激光与样品相互作用,测量样品在不同频率下产生的拉曼散射光谱,从而分析样品的化学成分和分子结构。

窄波段检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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