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正区检测仪器

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文章概述:1. 光学显微镜:用于观察和分析样品的表面形貌和内部结构。适用于金相、晶体学、材料科学等领域。
2. 扫描电子显微镜(SEM):通过扫描样品表面,利用电子束与样品的相互作用产生的

1. 光学显微镜:用于观察和分析样品的表面形貌和内部结构。适用于金相、晶体学、材料科学等领域。

2. 扫描电子显微镜(SEM):通过扫描样品表面,利用电子束与样品的相互作用产生的信号来获取样品的表面形貌和成分信息。

3. 透射电子显微镜(TEM):通过透射样品的电子束,观察和分析样品的内部结构和成分分布,具有较高的分辨率。

4. 气体色谱仪:用于分离和分析混合气体中的成分,通过测量样品中各组分相对的峰面积或峰高,确定各组分的含量。

5. 液相色谱仪:用于分离和分析样品中的溶解物,根据组分在固定相与流动相间的相互作用力的差异,实现样品的分离。

6. 质谱仪:用于确定样品中有机、无机物质的质量、结构和分子信息。通过测量样品分子的分子量、碎片的质量和丰度,进行分析和鉴定。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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