内容页头部

正性光刻胶检测范围

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:正性光刻胶检测主要应用于半导体、光电子、微电子等领域,用于检测正性光刻胶的性能和质量。
常见的正性光刻胶检测项目包括但不限于:
1. 粘度测试:测试正性光刻胶的黏度,评估其

正性光刻胶检测主要应用于半导体、光电子、微电子等领域,用于检测正性光刻胶的性能和质量。

常见的正性光刻胶检测项目包括但不限于:

1. 粘度测试:测试正性光刻胶的黏度,评估其流动性和涂布性。

2. 固化指数测试:测试正性光刻胶在不同曝光条件下的固化速度,判断其曝光响应性能。

3. 分辨率测试:通过图案化光刻胶膜进行曝光、显影等步骤,测量图案的最小可分辨尺寸,评估正性光刻胶的分辨能力。

4. 厚度均匀性测试:测量正性光刻胶在基片表面的厚度分布情况,判断其涂布性和均匀性。

5. 粘附力测试:测试正性光刻胶与基片的粘附强度,评估其粘附性能。

6. 耐候性测试:将正性光刻胶样品暴露在不同环境条件下,检测其颜色变化、粘附性能变化等,评估其耐候性。

正性光刻胶检测范围
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所