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杂质相检测方法

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文章概述:杂质相检测是指对样品中的杂质进行分析和检测的过程,常用的方法有:
1. 目测检测:通过人眼观察样品,检查是否存在可见的杂质,如异物、颜色异常等。
2. 显微镜检测:使用显微镜对样品

杂质相检测是指对样品中的杂质进行分析和检测的过程,常用的方法有:

1. 目测检测:通过人眼观察样品,检查是否存在可见的杂质,如异物、颜色异常等。

2. 显微镜检测:使用显微镜对样品进行观察和分析,可以检测微小的杂质、晶体结构等。

3. 化学分析:采用化学方法将样品中的杂质与试剂发生反应,通过物质的化学性质进行检测和分析。

4. 质谱分析:利用质谱仪对样品中的杂质进行分子质量、组成和结构的测定。

5. 光谱分析:包括紫外-可见吸收光谱、红外光谱、原子吸收光谱等方法,通过物质的吸收、发射和散射光谱进行分析。

6. 染色剂法:使用适当的染色剂对样品中的杂质进行处理,通过颜色的变化或沉淀的形成来确定杂质的存在。

7. 能谱分析:利用能量分散X射线光谱(EDX)或电子能谱分析(ESCA)仪器对样品中的杂质进行元素分析。

8. 粒度分析:用粒度分析仪测定样品中杂质的颗粒大小分布。

9. 表面形貌观察:利用扫描电子显微镜(SEM)等仪器观察样品表面的形貌结构,检测是否存在杂质。

杂质相检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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