内容页头部

载物片检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:1. 光学显微镜:用于观察和检测载物片的表面形态和结构。
2. 扫描电子显微镜(SEM):通过扫描电子束对载物片进行高分辨率的表面形貌观察,可检测微观结构和表面缺陷。
3. 能谱仪:配合

1. 光学显微镜:用于观察和检测载物片的表面形态和结构。

2. 扫描电子显微镜(SEM):通过扫描电子束对载物片进行高分辨率的表面形貌观察,可检测微观结构和表面缺陷。

3. 能谱仪:配合SEM使用,可以对材料进行元素分析,识别其中的成分和含量。

4. 傅里叶红外光谱仪(FTIR):用于对载物片进行红外光谱分析,识别材料中的有机分子结构。

5. X射线衍射仪(XRD):用于分析晶体结构和相组成,对载物片进行物相鉴定。

6. 热分析仪:包括差示扫描量热仪(DSC)、热重分析仪(TGA)等,用于测量材料的热性质,如熔点、热稳定性等。

7. 拉力试验机:用于测量载物片的力学性能,如抗拉强度、抗弯强度等。

载物片检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所