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增强型检测仪器

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文章概述:1.高分辨率显微镜:用于观察样品的微观结构和表面形貌。
2.扫描电子显微镜(SEM):利用电子束和探针来观察样品的表面形貌和化学成分。
3.透射电子显微镜(TEM):利用电子束透射样品来观

1.高分辨率显微镜:用于观察样品的微观结构和表面形貌。

2.扫描电子显微镜(SEM):利用电子束和探针来观察样品的表面形貌和化学成分。

3.透射电子显微镜(TEM):利用电子束透射样品来观察材料的内部结构。

4.X射线衍射仪(XRD):通过衍射现象来分析样品的晶体结构和晶体学参数。

5.傅里叶变换红外光谱仪(FTIR):用于分析物质的化学结构、分子键和功能基团。

6.气相色谱质谱联用仪(GC-MS):结合气相色谱和质谱技术,用于分析有机物的成分和结构。

7.液相色谱质谱联用仪(LC-MS):结合液相色谱和质谱技术,用于分析有机物和生物大分子的成分和结构。

8.核磁共振仪(NMR):利用核磁共振现象来分析样品的结构和化学环境。

9.热重分析仪(TGA):通过测量样品的质量变化来分析样品的热稳定性、组分和热分解动力学。

10.表面电子能谱仪(XPS):通过测量样品表面的电子能谱来分析样品的元素组成、化学状态和表面化学性质。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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