1. 震动筛分仪：

震动筛分仪是用于粉体物料的筛分、分级和过滤的仪器。它通过振动装置使样品在筛网上进行分离，根据不同粒径的颗粒通过或停留在不同筛网上，从而得到不同的粒径组成。

2. 粒度分析仪：

粒度分析仪是用于测量颗粒物料粒度分布的仪器。它通过将样品放入滑动系统中，在外加振动的作用下，粒度较小的物料将逐渐向下移动，直到通过最低位置时由光电传感器或摄像器捕获到其位置，通过统计计算得到粒度分布曲线。

3. 简析仪：

简析仪是用于测定物料中杂质或成分含量的仪器。它通过将物料样品与特定试剂进行反应，根据具体的测定原理，利用色谱、光谱、流动法等分析技术测定杂质或成分的含量。

4. 扫描电子显微镜(SEM)：

扫描电子显微镜是一种通过扫描电子束照射样品并检测反射或散射电子来得到样品表面形貌和成分信息的仪器。它能够提供高分辨率的图像，并通过能谱分析对元素进行定性和定量分析。

5. 热分析仪：

热分析仪是一类用于测定物料在不同温度下性质变化的仪器。常见的热分析方法包括差热分析(DSC)、热重分析(TGA)、热膨胀分析(TMA)等，通过测量样品的质量、温度等参数，分析样品的热稳定性、热分解温度、热膨胀系数等性质。

6. X射线衍射仪(XRD)：

X射线衍射仪是一种用于分析物质晶体结构的仪器。它通过照射样品的X射线，根据样品晶体结构的衍射规律，测量出反射或散射的X射线强度，从而得到样品的晶体结构信息，包括晶格参数、结晶度、晶体形态等。

7. 红外光谱仪(FTIR)：

红外光谱仪是一种用于测量样品在红外波段吸收、发射或散射光谱的仪器。它通过向样品照射红外光，测量样品吸收或散射的红外光谱，从而得到样品的分子结构、化学键信息等。