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圆顶状薄壳检测仪器

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文章概述:1. 非接触式三维测量仪:用于测量圆顶状薄壳的整体形状和尺寸,可以获取薄壳的曲率、高度差等数据,常用的设备包括激光扫描仪、相机测量系统等。
2. 厚度测量仪:用于测量圆顶状薄

1. 非接触式三维测量仪:用于测量圆顶状薄壳的整体形状和尺寸,可以获取薄壳的曲率、高度差等数据,常用的设备包括激光扫描仪、相机测量系统等。

2. 厚度测量仪:用于测量圆顶状薄壳的壁厚,常用的设备包括超声波测厚仪、X射线测厚仪等。

3. 张力测试仪:用于测量圆顶状薄壳的张力,即壳体的表面张力或膜片张力,常用的设备包括杨氏张力计、称重传感器等。

4. 精密测量仪器:用于测量圆顶状薄壳的微小变形,包括轴向变形、周向变形和切向变形等,常用的设备包括拉压变形仪、光栅测量系统等。

5. 气密性测试仪:用于测量圆顶状薄壳的气密性,即壳体是否具有密封性,常用的设备包括气密性检测装置、压力差测量仪等。

6. 温度湿度测试仪:用于测试圆顶状薄壳在不同温湿度条件下的性能,常用的设备有温湿度记录仪、恒温恒湿试验箱等。

7. 金相显微镜:用于观察圆顶状薄壳的金相组织结构,分析材料的晶粒、缺陷等信息,常用的设备包括光学金相显微镜、电子显微镜等。

圆顶状薄壳检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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