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增强检测仪器

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文章概述:1. 扫描电镜(SEM):扫描电镜是一种用于观察和分析材料形貌和结构的仪器,能够提供高分辨率的表面显微图像。它可用于检测材料的微观形态、表面缺陷、颗粒大小等。
2. 透射电镜(TEM):

1. 扫描电镜(SEM):扫描电镜是一种用于观察和分析材料形貌和结构的仪器,能够提供高分辨率的表面显微图像。它可用于检测材料的微观形态、表面缺陷、颗粒大小等。

2. 透射电镜(TEM):透射电镜是一种用于观察和分析材料内部结构的仪器,通过材料薄片的透射来获得高分辨率的图像。它可用于检测材料的晶体结构、相互作用等。

3. 紫外-可见分光光度计:紫外-可见分光光度计用于测量材料在紫外-可见光波段的吸收、反射或透射性质。它可用于检测材料的吸收光谱、浓度、色度等。

4. X射线衍射仪(XRD):X射线衍射仪用于分析材料的晶体结构和晶体衍射图样。它可用于检测材料的晶体形态、结构特征、相组成等。

5. 热重分析仪(TGA):热重分析仪用于测量材料在升温过程中的质量变化,可以分析材料的热稳定性、吸湿性、热分解特性等。

6. 手持式红外光谱仪:手持式红外光谱仪可用于快速检测和识别材料的化学成分和分子结构。它可以迅速获取样品的红外光谱图,用于快速分析和判别材料。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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