内容页头部

原地校正检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:激光仪器:用于测量物体的位置和形状,通过激光束来进行精确测量,可以实现原地校正。
摄像仪:用于拍摄物体的图像,通过图像处理算法来进行校正分析,可以检测物体的位置和形状。


激光仪器:用于测量物体的位置和形状,通过激光束来进行精确测量,可以实现原地校正。

摄像仪:用于拍摄物体的图像,通过图像处理算法来进行校正分析,可以检测物体的位置和形状。

光学测量仪器:用于测量物体的尺寸、形状和表面特征,通过光学原理来进行测量,可以进行原地校正检测。

加速度计:用于测量物体的加速度和位移,通过测量物体的运动状态来进行校正分析。

红外线热像仪:用于检测物体的热分布和温度变化,可以通过红外线传感器来测量物体的温度,进行原地校正。

电子级平台:用于提供稳定而平坦的工作平台,用于放置和测量被校正的物体。

图像处理软件:用于处理通过摄像仪拍摄到的图像,进行校正分析,提取物体的位置和形状信息。

数据采集卡:用于将各种测量仪器采集到的数据传输到计算机,供后续分析使用。

计算机:用于控制和操作各种测量仪器,进行数据处理和分析。

原地校正检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所