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文章概述：激光粒度仪：用于测量颗粒的粒径分布，检测范围通常在几纳米到数毫米之间。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察细粒组分的表面形貌和微观结构，检测范围取决于仪器的分辨率。
X 射线衍射仪（X
激光粒度仪：用于测量颗粒的粒径分布，检测范围通常在几纳米到数毫米之间。
扫描电子显微镜（SEM）：可观察细粒组分的表面形貌和微观结构，检测范围取决于仪器的分辨率。
X 射线衍射仪（XRD）：用于分析细粒组分的晶体结构，检测范围通常在几纳米到几百微米之间。
原子力显微镜（AFM）：能够提供细粒组分的高分辨率表面形貌图像，检测范围较小，通常在纳米级别。
热重分析仪（TGA）：可测量细粒组分在加热过程中的质量变化，检测范围取决于样品的性质和仪器的灵敏度。
