吸收单层检测通常用于研究物质在表面的吸附行为和单层结构。以下是一些常用的仪器：

1. 原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，AFM）：可以用于测量表面形貌和吸附层的厚度。

2. 表面等离子体共振（Surface Plasmon Resonance，SPR）：用于检测物质在金属表面的吸附和相互作用。

3. 红外光谱（Infrared Spectroscopy，IR）：可用于分析吸附单层的化学组成和化学键。

4. 拉曼光谱（Raman Spectroscopy）：提供关于吸附单层的分子结构和振动信息。

5. X 射线光电子能谱（X-ray Photoelectron Spectroscopy，XPS）：用于确定吸附单层的元素组成和化学状态。

6. 椭圆偏振光谱（Ellipsometry）：测量吸附单层的厚度和光学性质。

7. 石英晶体微天平（Quartz Crystal Microbalance，QCM）：检测吸附单层引起的质量变化。

8. 扫描隧道显微镜（Scanning Tunneling Microscopy，STM）：用于研究表面原子结构和吸附单层的形貌。