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雾化粉粒检测仪器

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文章概述:激光粒度仪:用于测量粉末的粒度分布。
比表面积分析仪:测定粉末的比表面积。
扫描电子显微镜(SEM):观察粉末的颗粒形态和表面结构。
X 射线衍射仪(XRD):分析粉末的晶体结构。
振实密

激光粒度仪:用于测量粉末的粒度分布。

比表面积分析仪:测定粉末的比表面积。

扫描电子显微镜(SEM):观察粉末的颗粒形态和表面结构。

X 射线衍射仪(XRD):分析粉末的晶体结构。

振实密度仪:测量粉末的振实密度。

松装密度仪:测定粉末的松装密度。

水分测定仪:检测粉末中的水分含量。

化学分析仪器:用于分析粉末中的化学成分。

雾化粉粒检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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