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折倒剖面检测仪器

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文章概述:激光干涉仪:通过激光干涉原理,测量物体的表面形貌和形变。
投影测量仪:利用光学原理,通过投影物体的影像 onto a screen 或 CCD 相机上,来进行测量。
剖面仪:通过移动传感器接触到

激光干涉仪:通过激光干涉原理,测量物体的表面形貌和形变。

投影测量仪:利用光学原理,通过投影物体的影像 onto a screen 或 CCD 相机上,来进行测量。

剖面仪:通过移动传感器接触到被测物体上并进行扫描,记录下物体表面的剖面信息。

三维扫描仪:通过扫描物体表面,获取物体的三维坐标信息。

光学投影仪:使用光学原理投射一系列光斑或格纹 onto an object,观察和测量物体的形状和尺寸。

相机测量系统:利用相机和图像处理算法,对物体进行拍摄和测量,获取物体的形状、尺寸和表面特征。

扫描电镜:通过扫描物体表面的电子束,观察和测量物体的微观形貌。

手持式测量工具:例如卡尺、游标卡尺、测距仪等,用于直接测量物体的尺寸和形状。

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中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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