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整粒系统检测方法

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文章概述:整粒系统检测是一种用于评估颗粒物在特定环境中的整体粒度分布和质量的方法。以下是整粒系统检测的常用方法:
1. 振动筛分检测:通过将颗粒物通过筛网进行分级,测量每个筛网上的

整粒系统检测是一种用于评估颗粒物在特定环境中的整体粒度分布和质量的方法。以下是整粒系统检测的常用方法:

1. 振动筛分检测:通过将颗粒物通过筛网进行分级,测量每个筛网上的颗粒物剩余量,从而得出粒度分布。

2. 液体分散激光粒度仪:使用激光光束照射颗粒物悬浮液,测量散射光强度,从而得出颗粒物的粒径分布。

3. 静态图像分析法:通过在显微镜下观察颗粒物的图像,并使用图像处理软件进行分析,得出颗粒物的形状和大小分布。

4. 集中示踪法:在颗粒物中添加示踪剂,然后使用各种方法(如光谱分析、荧光显微镜等)检测示踪剂的浓度,从而得出颗粒物的分布。

5. 歧管分散法:将颗粒物在气流中进行分散,并使用气流冲击器将颗粒物分离成不同大小的组分,通过对每个组分的重量或计数进行测量,得出粒径分布。

整粒系统检测方法
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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