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文章概述：无杂质半导体检测主要用于半导体材料和器件的质量控制和性能评估。常见的无杂质半导体检测对象包括但不限于：硅片：用于制造集成电路和其他半导体器件。砷化镓：用于制造高频电子
无杂质半导体检测主要用于半导体材料和器件的质量控制和性能评估。
常见的无杂质半导体检测对象包括但不限于：
硅片：用于制造集成电路和其他半导体器件。
砷化镓：用于制造高频电子器件和光电器件。
磷化铟：用于制造高速电子器件和光电器件。
碳化硅：用于制造高温、高频和高功率电子器件。
氮化镓：用于制造蓝光和紫外线发光二极管、激光二极管等光电器件。
半导体器件：如二极管、晶体管、集成电路等。
