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无限小位错检测仪器

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文章概述:电子显微镜:可用于观察材料中的微观结构和位错,分辨率高。
X 射线衍射仪:通过分析 X 射线衍射图谱,确定晶体结构和位错类型。
原子力显微镜:能够提供表面形貌和微观结构的高分辨

电子显微镜:可用于观察材料中的微观结构和位错,分辨率高。

X 射线衍射仪:通过分析 X 射线衍射图谱,确定晶体结构和位错类型。

原子力显微镜:能够提供表面形貌和微观结构的高分辨率图像。

扫描隧道显微镜:用于研究表面原子结构和位错。

光学显微镜:在较低放大倍数下观察位错的宏观特征。

无限小位错检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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