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无屏蔽曝光检测范围

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文章概述:无屏蔽曝光检测主要用于检测电子设备或材料在无屏蔽环境下的辐射性能。常见的无屏蔽曝光检测对象包括但不限于:电子设备:如手机、电脑、平板等。电子元件:如芯片、电路板等。无

无屏蔽曝光检测主要用于检测电子设备或材料在无屏蔽环境下的辐射性能。

常见的无屏蔽曝光检测对象包括但不限于:

电子设备:如手机、电脑、平板等。

电子元件:如芯片、电路板等。

无线通信设备:如路由器、蓝牙设备等。

电磁辐射源:如高压线、变电站等。

医疗设备:如 X 光机、CT 机等。

工业设备:如电焊机、切割机等。

汽车电子设备:如车载导航、车载音响等。

航空航天设备:如飞机、卫星等。

无屏蔽曝光检测范围
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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