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文章概述：四探针测试仪：用于测量半导体材料的电阻率和方块电阻。
霍尔效应测试仪：用于测量半导体材料的霍尔系数、载流子浓度等参数。
表面电阻测试仪：用于测量材料表面的电阻值。
电导
四探针测试仪：用于测量半导体材料的电阻率和方块电阻。
霍尔效应测试仪：用于测量半导体材料的霍尔系数、载流子浓度等参数。
表面电阻测试仪：用于测量材料表面的电阻值。
电导率测试仪：用于测量材料的电导率。
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