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栅差检测仪器

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文章概述:栅差检测是一种用于测量物体表面平整度和平行度误差的技术。以下是常用的仪器:
1. 测微仪:也称为测微表,用于测量物体表面的微小高度差。通过测量物体上的多个点的高度,可以得到

栅差检测是一种用于测量物体表面平整度和平行度误差的技术。以下是常用的仪器:

1. 测微仪:也称为测微表,用于测量物体表面的微小高度差。通过测量物体上的多个点的高度,可以得到栅差值。

2. 平行仪:用于测量物体表面平行度误差。它包括两个平行的测量臂,可以放置在物体上的不同区域进行测量。

3. 表面粗糙度仪:用于测量物体表面的表面粗糙度。它使用针尖或激光来测量物体表面的起伏和不平整度。

4. 影像测量仪:利用高分辨率的相机和图像处理技术,可以对物体表面进行快速而准确的测量。可用于测量物体的平整度和平行度误差。

5. 光干涉仪:基于干涉原理,用于测量物体表面的薄膜厚度、光学元件表面形貌等。可以精确测量栅差值。

栅差检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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