内容页头部

正刃型位错检测仪器

因您的需求、实验方案、检测样品、测试过程不同,相应的参考标准请咨询在线工程师!

文章概述:正刃型位错检测是一种用来检测材料中正刃位错的方法,常用的仪器有:
1. 位错解析仪:能够测量和分析材料中的位错类型、密度、长度和方位角等参数。
2. 透射电子显微镜(TEM):利用电

正刃型位错检测是一种用来检测材料中正刃位错的方法,常用的仪器有:

1. 位错解析仪:能够测量和分析材料中的位错类型、密度、长度和方位角等参数。

2. 透射电子显微镜(TEM):利用电子束穿透材料,并通过位错的散射效应来观察和分析位错的形态和位置。

3. 分子力显微镜(AFM):通过探针对材料表面进行扫描,可以获得纳米尺度下位错的形态和分布情况。

4. X射线衍射仪(XRD):通过材料中的晶格畸变和位错对X射线的散射效应,来分析位错的类型和密度。

正刃型位错检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

全站搜索

中析研究所