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文章概述：X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够检测材料表面的微观结构和位错。
扫描隧道显微镜：可用于研究位错的
X 射线衍射仪：用于分析晶体结构和位错密度。
电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：能够检测材料表面的微观结构和位错。
扫描隧道显微镜：可用于研究位错的电子结构。
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