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再磨循环检测仪器

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文章概述:再磨循环检测通常用到以下仪器:
1. 微粉分析仪
微粉分析仪可以用于粉体的颗粒大小分析和分布检测,通过激光散射原理进行测量,可获取粉体样品中颗粒的粒径及颗粒大小的分布情况

再磨循环检测通常用到以下仪器:

1. 微粉分析仪

微粉分析仪可以用于粉体的颗粒大小分析和分布检测,通过激光散射原理进行测量,可获取粉体样品中颗粒的粒径及颗粒大小的分布情况。

2. 扫描电子显微镜(SEM)

扫描电子显微镜主要用于观察和检测材料表面、颗粒形貌以及颗粒间结构的形态、大小和形貌等特性。通过高能电子束的扫描来获取样品表面微观形貌的图像。

3. X射线衍射仪(XRD)

X射线衍射仪可以分析材料的晶体结构和衍射图谱,通过照射样品后测量衍射出的X射线波长和强度,进而确定材料的晶体结构和成分。

4. 气相色谱仪(GC)

气相色谱仪用于分离和检测气体或挥发性液体中的各种成分。样品经过柱子的分离后,各成分会在不同时间点上出现,通过检测器测量各成分的峰面积或峰高来进行定量分析。

5. 粒度分析仪

粒度分析仪可以测量固体颗粒的粒径大小和分布情况。通过颗粒在液体中的沉降速度或散射光的特性,结合一定的原理和方法,计算得出样品中颗粒的粒径分布情况。

再磨循环检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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