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杂质粉粒检测仪器

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文章概述:1. 振动筛:用于将样品中的杂质分离出来。样品置于筛网上,通过振动使得杂质颗粒从筛孔中落下,达到粉粒杂质检测的目的。
2. 显微镜:用于观察样品中的微小杂质粉粒。可以通过放大

1. 振动筛:用于将样品中的杂质分离出来。样品置于筛网上,通过振动使得杂质颗粒从筛孔中落下,达到粉粒杂质检测的目的。

2. 显微镜:用于观察样品中的微小杂质粉粒。可以通过放大镜头观察,进一步判断样品的纯净度。

3. 显微成像系统:类似于显微镜,但可以将观察到的图像通过成像系统保存下来,以便后续的分析和比对。

4. 高效液相色谱仪(HPLC):用于对样品中的化学成分进行分离和检测,以进一步判断是否有杂质存在。

5. 红外光谱仪(IR):通过测量样品对红外光的吸收情况,可以分析样品的成分和结构,判断是否含有杂质。

杂质粉粒检测仪器
中析研究所

北京中科光析科学技术研究所(简称中析研究所),隶属于北京前沿科学技术研究院,为集体所有制单位,是以科研检测为主的科学技术研究机构。中析研究所坚持基础研究与应用研究并重、应用研究和技术转化相结合,发展为以“任务带学科”为主要特色的综合性研究所。经国家有关部门批准,成为第三方分析测试技术服务单位,旗下实验室机构获得CMA资质认证。开展了研发设计、分析检测、试验验证、共性加工、信息及知识产权等服务,为科技型企业创新提供公共服务。本所得到政府创新基金的支持,被评为国家高新技术企业。

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