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文章概述：电子显微镜：可以直接观察到位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的存在和类型。
原子力显微镜：能够测量材料表面的形貌和力学性质，包括位错的作用
电子显微镜：可以直接观察到位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：通过分析晶体的衍射图谱来确定位错的存在和类型。
原子力显微镜：能够测量材料表面的形貌和力学性质，包括位错的作用范围。
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