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文章概述：电子显微镜：可用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：用于分析位错引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能在位错尺度上进行表面形貌的测量。
激光多普勒测速仪：检测位错运动
电子显微镜：可用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：用于分析位错引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能在位错尺度上进行表面形貌的测量。
激光多普勒测速仪：检测位错运动引起的速度变化。
磁力显微镜：适用于磁性材料中位错的检测。
