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文章概述：电子显微镜：用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：可以分析位错引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能够检测位错对表面形貌的影响。
磁力显微镜：用于研究位错与磁性的关系
电子显微镜：用于观察位错的形态和分布。
X 射线衍射仪：可以分析位错引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能够检测位错对表面形貌的影响。
磁力显微镜：用于研究位错与磁性的关系。
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