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文章概述：电子显微镜：用于观察位错源的微观结构和形态。
X 射线衍射仪：可以分析位错源的晶体结构和缺陷。
原子力显微镜：能够测量位错源的表面形貌和力学性质。
扫描隧道显微镜：用于在位
电子显微镜：用于观察位错源的微观结构和形态。
X 射线衍射仪：可以分析位错源的晶体结构和缺陷。
原子力显微镜：能够测量位错源的表面形貌和力学性质。
扫描隧道显微镜：用于在位错源表面进行原子级别的成像和分析。
磁力显微镜：可检测位错源周围的磁场分布。
