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文章概述：电子显微镜：可以用于观察位错网的微观结构和分布。
X 射线衍射仪：可用于分析位错网的晶体结构和缺陷。
原子力显微镜：能够提供位错网的高分辨率表面形貌图像。
电子显微镜：可以用于观察位错网的微观结构和分布。
X 射线衍射仪：可用于分析位错网的晶体结构和缺陷。
原子力显微镜：能够提供位错网的高分辨率表面形貌图像。
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