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文章概述：电子显微镜：用于观察位错圈的微观结构和形态。
X 射线衍射仪：可以分析位错圈引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能够提供位错圈的高分辨率图像和表面形貌信息。
电子显微镜：用于观察位错圈的微观结构和形态。
X 射线衍射仪：可以分析位错圈引起的晶体结构变化。
原子力显微镜：能够提供位错圈的高分辨率图像和表面形貌信息。
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