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文章概述：电子显微镜：用于观察材料中的位错结构和分布。
X 射线衍射仪：可以分析材料的晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：能够测量材料表面的形貌和位错特征。
硬度测试仪：可间接评估位
电子显微镜：用于观察材料中的位错结构和分布。
X 射线衍射仪：可以分析材料的晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：能够测量材料表面的形貌和位错特征。
硬度测试仪：可间接评估位错迁移对材料硬度的影响。
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