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文章概述：X 射线衍射仪：通过对晶体衍射图谱的分析，确定位错的类型和密度。
透射电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量位错引起的表面形貌变化。
扫描电子显
X 射线衍射仪：通过对晶体衍射图谱的分析，确定位错的类型和密度。
透射电子显微镜：可以直接观察位错的形态和分布。
原子力显微镜：用于测量位错引起的表面形貌变化。
扫描电子显微镜：可观察位错对材料表面的影响。
电子背散射衍射仪：分析位错的晶体学特征。
