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文章概述：光学显微镜：用于观察材料表面的位错和裂纹。
扫描电子显微镜（SEM）：能够提供高分辨率的图像，可用于检测位错和裂纹的形态、分布等。
X 射线衍射仪（XRD）：通过分析材料的晶体结构，确定位
光学显微镜：用于观察材料表面的位错和裂纹。
扫描电子显微镜（SEM）：能够提供高分辨率的图像，可用于检测位错和裂纹的形态、分布等。
X 射线衍射仪（XRD）：通过分析材料的晶体结构，确定位错的类型和密度。
电子背散射衍射（EBSD）：可以测量晶体取向和位错密度。
原子力显微镜（AFM）：用于观察材料表面的微观结构，包括位错和裂纹。
声学显微镜：利用声波检测材料内部的缺陷，如位错和裂纹。
磁力显微镜（MFM）：可检测磁性材料中的位错和裂纹。
