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文章概述：电子显微镜：可用于观察位错节的微观结构和弯曲情况。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：用于检测位错节的表面形貌和弯曲程度。
电子显微镜：可用于观察位错节的微观结构和弯曲情况。
X 射线衍射仪：可以分析晶体结构和位错密度。
原子力显微镜：用于检测位错节的表面形貌和弯曲程度。
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