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文章概述：X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，可确定晶体结构和位错分布。
电子显微镜：包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），可直接观察材料中的位错形态和分布。
原子力
X 射线衍射仪：通过对材料进行 X 射线衍射分析，可确定晶体结构和位错分布。
电子显微镜：包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM），可直接观察材料中的位错形态和分布。
原子力显微镜（AFM）：用于检测材料表面的微观结构，包括位错。
