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文章概述：位错形成检测主要应用于晶体材料中，用于研究和评估位错的形成和分布情况。常见的位错形成检测对象包括但不限于：金属材料：如钢铁、铝合金等。半导体材料：如硅、锗等。陶瓷材料：如
位错形成检测主要应用于晶体材料中，用于研究和评估位错的形成和分布情况。
常见的位错形成检测对象包括但不限于：
金属材料：如钢铁、铝合金等。
半导体材料：如硅、锗等。
陶瓷材料：如氧化铝、氧化锆等。
高分子材料：如聚乙烯、聚丙烯等。
复合材料：如碳纤维增强复合材料等。
